新研发的 optris® PI 08M 热像仪的光谱范围为 800 nm,可减少因未知或变化的发射率引起的测量误差。这款红外热像仪结构紧凑,由于其光谱范围以及 575 °C 到 1900 °C 的连续测量范围,几乎适用于所有的 NIR 和 CO2 激光加工应用。 帧率为 1 kHz,并具有较高的光学分辨率,能够最佳地适应不同的应用程序。
特殊窄带光谱响应为 800 nm, 几乎是所有 NIR 和 CO2 激光加工应用的理想之选 广泛的测量范围:575 °C 至 1900 °C,无子范围 高动态 CMOS 检测器,分辨率高达 764 x 480 像素 高达 1 kHz 帧率的快速处理 实时模拟输出,响应时间为 1 ms 包括功能强大的软件包和 SDK
技术参数 | |
供货范围 | USB摄像头包括 1个镜头 |
镜头有保护窗 | |
USB 电缆(1 m) | |
三脚架 | |
包括端子块的PIF电缆(1 m) | |
Optris PI Connect软件包 | |
铝箱选配: 冷却套 | |
耐高温电缆 | |
探测装置 | CMOS (15 μm x 15 μm) |
光学分辨率(可切换)/帧率 | 764 x 480 像素 @ 32 Hz / 382 x 288 像素 @ 80 Hz(可切换至 27 Hz) / 72 x 56 像素 @ 1 kHz / 764 x 8 像素 @ 1 kHz(快速线扫描模式) |
光谱范围 | 800 nm |
温度量程 | 575 ...1900 °C(27 Hz 模式) / 625 ...1900 °C(80 Hz 和 32 Hz 模式) / 750 ...1900 °C(1 kHz 模式) |
光学分辨率 | FOV @ 382 x 288 px:13° x 10° (f = 25 mm) |
FOV @ 764 x 480 px:26° x 16° (f = 25 mm) | |
热敏性 (NETD)(注释1) | 27 Hz、32 Hz 和 80 Hz 模式 < 2 K (1000 °C) |
1 kHz 模式 < 3 K (1400 °C) | |
精度 | 读数 ±1 %(<1500 °C) / ±1.5 % (>1500 °C) |
PC 接口 | USB 2.0/USB 至 GigE (PoE) 转换选件 |
高速模拟输出(@ 1 kHz 模式) | 8x8 像素的 0–10 V 实时输出(响应时间 1 ms) |
标准过程接口(PIF) | 0–10 V 输入、数字输入(最高 24 V)、0 – 10 V 输出 |
可选工业过程接口(PIF) | 2x 0-10 V 输入、数字输入(最高 24 V)、3x 0–10 V 输出、3x 继电器(0 – 30 V/400 mA),故障安全继电器 |
电缆长度(USB) | 1 m(标准)、5 m、10 m;5 m 和 10 m 电缆也可用作 HT 电缆 (180 °C) |
环境温度 (TAmb) | 5 ...50 °C |
存储温度 | -40 ...70 °C |
相对湿度 | 20 - 80%,无结露 |
外壳(尺寸/额定值) | 46 mm x 56 mm x 90 mm/IP 67 (NEMA 4)(注释2) |
重量 | 320g,包括镜头 |
冲击(注释3) | - IEC 60068-2-27(25 g 和 50 g) |
震动(注释3) | - IEC 60068-2-6(正弦波形)/ - IEC 60068-2-64(宽带噪声) |
三脚架 | 1/4-20 UNC |
电源 | USB |
注释1 | 处于 27 Hz、32 Hz 和 80 Hz 模式 |
注释2 | 仅在使用镜头保护筒时应用 |
注释3 | 更多详情,请参见操作员手册 |
应用 | |
optris PI 08M 红外测温仪的应用领域范围 | |
optris PI 08M 短波长红外热像仪可以很好地阻挡 800 nm 以上的辐射,非常适用于激光加工应用。光谱范围为 800 nm,受到周围环境影响的可能性较小,因此即使面对不断变化的发射率,也可以确保测量精确。 |
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